Orodja za popravilo konice sonde so kategorizirana predvsem glede na vrsto sonde in stopnjo pasivizacije. Vključujejo orodja za fizično čiščenje, opremo za kemično čiščenje, naprave za elektrokemična popravila in specializirane diagnostične instrumente. Ta orodja se uporabljajo za obnovitev delovanja blago pasiviziranih sond ali za ugotavljanje, ali je sonda potrebna zamenjava.
I. Orodja za fizično čiščenje: primerna za površinsko kontaminacijo ali blago oksidacijo
1. Ultra-fina abrazivna orodja
Izjemno{0}}fini brusni papir (zrnatost 2000 ali več): uporablja se za poliranje površinskega oksidnega sloja na kovinskih sondah (kot so Pogo zatiči ali merilni kabli multimetra), da se obnovi prevodnost.
Krpa brez vlaken + izopropilni alkohol (IPA): Uporablja se za brisanje madežev na konicah sonde; preprost za uporabo in primeren za hitro-zdravljenje na kraju samem.
Mikro{0}}kontrolirani polir: Omogoča nadzorovano poliranje sond pod mikroskopom, kar preprečuje prekomerno obrabo.
Veljavni scenariji: Redno vzdrževanje industrijskih preskusnih sond in igel za popravilo vezij.
2. Orodja za pretok zraka in krtačenje
Pištola za izpihovanje dušika: Odstranjuje prah, ki se drži konic sonde, in preprečuje sekundarno onesnaženje.
Ultrazvočni čistilec: Uporablja se v povezavi s čistilno raztopino za učinkovito odstranjevanje delcev in organskih ostankov.
II. Oprema za kemična in elektrokemična popravila: ciljno odstranjevanje oksidnih plasti
1. Kemične čistilne raztopine
Raztopina razredčene klorovodikove kisline ali citronske kisline: Uporablja se za namakanje kovinskih sond (npr. volframa, berilijevega bakra) za raztapljanje površinskih oksidov.
Specializirana tekočina za čiščenje elektronskih sond: komercialno dostopni izdelki (npr. DeoxIT D5), ki lahko varno odstranijo oksidne filme, ne da bi poškodovali material substrata.
Opomba: Ni primerno za sonde AFM-na osnovi silicija, saj lahko razjeda konzolno strukturo.
2. Naprave za elektrokemična popravila
Sistem nadzorovane -tokovne elektrolize: odstrani oksidne plasti s prilagoditvijo napetosti in koncentracije elektrolita, ne da bi spremenil geometrično obliko sonde.
Mikro-elektrolitska celica: zasnovana posebej za sonde finega-premera, ki omogočajo lokalno čiščenje.
Prednosti: Visoka natančnost čiščenja in minimalna škoda; primeren za vzdrževanje visoko{0}}vrednih sond.
III. Specializirane tehnike obdelave za sonde v nanometrskem merilu (ni za domačo uporabo)
1. Plazma čistilo
Uporablja kisikovo plazmo za razgradnjo organskih onesnaževalcev; široko uporablja za laboratorijsko-čiščenje AFM in polprevodniških sond.
Učinkovito poveča reaktivnost konice in obnovi površinsko prevodnost.
2. Ostrenje z fokusiranim ionskim žarkom (FIB).
»Skulptira« zaostrene konice na atomskem merilu, da-ponovno vzpostavi oster profil.
Visoko-tehnika raziskovanja, ki vključuje znatne stroške in je omejena na uporabo v specializiranih scenarijih.
Praktične omejitve: oprema FIB je draga in zapletena za uporabo; nima univerzalne vrednosti kot rešitev za popravilo in je običajno manj ekonomična in zanesljiva kot preprosta zamenjava sonde z novo.
IV. Orodja za-preverjanje po popravilu: zagotavljanje izpolnjevanja standardov delovanja
1. vrstični elektronski mikroskop (SEM)
Neposredno opazuje morfologijo konice, da ugotovi, ali je bil polmer ukrivljenosti obnovljen.
Služi kot najbolj verodostojna metoda v laboratoriju za ocenjevanje otopelosti konice.
2. Interferometer bele svetlobe/samo-kalibracija AFM
Posredno oceni stanje sonde s 3D rekonstrukcijo površine ali slikanjem standardnih vzorcev.
Primerno za rutinsko preverjanje v okoljih, kjer SEM ni na voljo.
3. Metoda testiranja standardnega vzorca
Uporablja vzorce z znanimi strukturami (npr. HOPG, standardi uklonskih rešetk) za primerjalno skeniranje.
Če so nastale slike jasne in brez razširjenih artefaktov, to pomeni, da sonda deluje normalno.
